顯微鏡資訊：掃描電子顯微鏡上*多用途的科學(xué)儀器之一! 金子

提問(wèn)：

不知道我的回復(fù)有沒(méi)有幫到您，如您有疑問(wèn)可在我公司在線咨詢系統(tǒng)留言詢問(wèn)！！

回復(fù)：

電子通過(guò)顯微鏡主要是可以利用高加速工作電壓之入射電子束打擊在試片后，產(chǎn)生一些相關(guān)信息二次訊號(hào)來(lái)分析以及各種不同特性，，一般的二次訊號(hào)包括直射電子、散射影響電子、二次使用電子、背向散射網(wǎng)絡(luò)電子、Auger電子及X射線等。熒光顯微鏡以紫外線為光源， 用以照射被檢物體， 使之發(fā)出熒光， 然后在顯微鏡下觀察物體的形狀及其所在位置。熒光顯微鏡用于研究細(xì)胞內(nèi)物質(zhì)的吸收、運(yùn)輸、化學(xué)物質(zhì)的分布及定位等。體視顯微鏡一臺(tái)儀器。指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺(jué)的雙目顯微鏡。生物顯微鏡用來(lái)觀察生物切片、生物細(xì)胞、細(xì)菌以及活體組織培養(yǎng)、流質(zhì)沉淀等的觀察和研究，同時(shí)可以觀察其他透明或者半透明物體以及粉末、細(xì)小顆粒等物體。左圖所示為生產(chǎn)的倒置生物顯微鏡型，該生物顯微鏡也是食品廠、飲用水廠辦QS、HACCP認(rèn)證的必備檢驗(yàn)設(shè)備。電子顯微鏡的發(fā)展以穿透式電子顯微鏡（TEM：Transmission Electron Microscope）為*早，在1931年即已明確提出；掃描式電子顯微鏡（SEM：Scanning Electron Microscope）則在1935年提出。由于中國(guó)早期教育發(fā)展的SEM解析度未臻理想，影像數(shù)據(jù)處理及訊號(hào)處理系統(tǒng)技術(shù)企業(yè)無(wú)法實(shí)現(xiàn)突破，一直到1965年以后，SEM才正式普獲研究我國(guó)學(xué)者的青睞。此后SEM的發(fā)展具有相當(dāng)經(jīng)濟(jì)快速，不但機(jī)臺(tái)性能的大幅增加提高，且各項(xiàng)活動(dòng)材料問(wèn)題分析及其附件形式日益明顯增多，應(yīng)用的范圍也不斷地努力擴(kuò)大，幾乎沒(méi)有包含社會(huì)各個(gè)方面研究設(shè)計(jì)領(lǐng)域，目前主要應(yīng)用在建筑材料、機(jī)械、電機(jī)、電子產(chǎn)品材料、冶金、地質(zhì)、礦物、生物實(shí)驗(yàn)醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理環(huán)境等方面出現(xiàn)*多。

由于掃描電子顯微鏡（SEM）具有較大的景深（焦深），因此在研究物體表面結(jié)構(gòu)方面非常有效，如斷裂、磨損表面、涂層結(jié)構(gòu)、夾雜物等。近年來(lái)，由于技術(shù)的進(jìn)步，SEM將電子微分析儀與電子微分析儀結(jié)合起來(lái)。（它們的主要功能比較見(jiàn)表3-4）觀察表面結(jié)構(gòu)時(shí)， 掃描電子顯微鏡已成為*廣泛使用的科學(xué)儀器之一，用于同時(shí)定性和定量分析微觀區(qū)域